Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics (gebundenes Buch)

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Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics

David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, R Khosla

Springer, Berlin

199,72 €

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Bibliographische Informationen

ISBN/EAN: 9780735407121

Sprache: Englisch

Seiten: 320

Fomat (h/b/t): 27,0 x 21,0 cm

Auflage: 1., 2010

Bindung: gebundenes Buch